MicroLED 面板檢測

偵測顯示器面板上的 MicroLED 多變缺陷

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MicroLED 直接從晶圓接合到面板，並會對其進行檢查，找出是否存在刮痕、污染物或損壞晶粒等瑕疵。由於晶粒的尺寸極小（<100 微米）而且厚度極薄，MicroLED 晶粒隨時會出現災難性生產缺陷（可能較大的 LED 或 Mini LED 可以接受的生產缺陷）。適用於電視、智慧型手機或 VR 設備的 MicroLED 顯示螢幕需要進行 100% 的檢測以及極低的不良 LED 計數，因為過多瑕疵會影響顯示螢幕的亮度和色彩均勻度。電視燈光面板內可能會有數百萬個 MicroLED，因此檢測必須快速而且準確，才能維持快速的生產速度。瑕疵中可能存在多種變化，因此對於傳統的規則型機器視覺來說會變得過於複雜。

Cognex AI 技術幫助 MicroLED 製造商識別顯示器面板上的缺陷晶粒。這套系統使用代表良好與不良 (NG) 結果的一系列圖像進行訓練，讓軟體略過在誤差範圍內的變化，並且只標記重大缺陷。這套分析工具會在面板中的區域執行作業，可找出 MicroLED 中的細微缺陷。生產經理可以使用分類工具分類各種缺陷，使用這些資料最佳化上游流程並提高整體生產效率。在早期製程中識別和修復缺陷符合成本效益，可協助製造商為客戶提供高品質面板。