MicroLED 面板檢測

偵測顯示器面板上的 MicroLED 多變缺陷

高架攝影機可檢查平面 MicroLED 面板是否存在缺陷

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MicroLED 直接從晶圓接合到面板,並會對其進行檢查,找出是否存在刮痕、污染物或損壞晶粒等瑕疵。由於晶粒的尺寸極小(<100 微米)而且厚度極薄,MicroLED 晶粒隨時會出現災難性生產缺陷(可能較大的 LED 或 Mini LED 可以接受的生產缺陷)。適用於電視、智慧型手機或 VR 設備的 MicroLED 顯示螢幕需要進行 100% 的檢測以及極低的不良 LED 計數,因為過多瑕疵會影響顯示螢幕的亮度和色彩均勻度。電視燈光面板內可能會有數百萬個 MicroLED,因此檢測必須快速而且準確,才能維持快速的生產速度。瑕疵中可能存在多種變化,因此對於傳統的規則型機器視覺來說會變得過於複雜。

Cognex AI 技術幫助 MicroLED 製造商識別顯示器面板上的缺陷晶粒。這套系統使用代表良好與不良 (NG) 結果的一系列圖像進行訓練,讓軟體略過在誤差範圍內的變化,並且只標記重大缺陷。這套分析工具會在面板中的區域執行作業,可找出 MicroLED 中的細微缺陷。生產經理可以使用分類工具分類各種缺陷,使用這些資料最佳化上游流程並提高整體生產效率。在早期製程中識別和修復缺陷符合成本效益,可協助製造商為客戶提供高品質面板。 

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