定位 Mini LED 晶粒以進行分類

確保準確和高效率的分類（分級）流程

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使用 PatMax 定位組件

精準且一貫的組件與特徵定位技術

晶圓測試系統可建立晶圓上所有 Mini LED 晶粒的晶粒圖，擷取每個晶粒的物理和表面缺陷、合格／不合格、亮度和顏色等關鍵屬性。機器會在進行晶粒映射流程之後，根據品質對個別 Mini LED 模具進行分類（分級）作業。這些高速機器使用先前建立的晶粒圖，來定位符合指定標準組合的晶粒。機器人微鑷夾系統從晶圓上取下已定位的晶粒，並將其放置在輸出收集器上進行進一步處理。該週期會重複下一組分類標準組合。

分類系統使用機器視覺和圖案比對視覺工具定位每個目標晶粒，並與機器分享該晶粒在晶圓上的位置，以便拾取。 由於 Mini LED 生產的數量龐大並且採自動化作業，因此速度至關重要。傳統的視覺工具使用像素型對比來定位物體；然而，往往會出現必須吸收速度才能達到高解析度準確度的權衡作法。此外，晶圓表面可能具有刮痕或污染物，或具有較高程度的反射率，進而阻礙快速準確的晶粒定位。

康耐視 VisionPro 軟體針對 LED 分類作業，提供了穩健、準確和快速晶粒圖案定位功能，幫助避免這些問題。PatMax 專利幾何圖案找尋視覺工具，可定位多變晶粒圖案，並對位微鑷夾以便迅速揀取。這套工具以高準確度與再現性定位晶粒，確保設備可在整體 Mini LED 製造流程中發揮可靠效能。與康耐視合作，可讓 OEM 製造商（原始設備製造商）可以達成高速對位，進而充分利用出揀料和放料流程並提高整體設備效率。