USB 連接器檢測
確保 USB-C 連接可正常運作

USB Type C 連接器逐漸取代多種不同的現有 USB 類型,以及其他用於供電與資料傳輸的連接器。其體積小巧且需要按照嚴格的規格製造。和先前的 USB 型號相比,USB-C 連接器能承載更高的功率,但由於內壁較薄,使得體積更小巧,其很容易在製造期間受損,如果有缺陷,還會增加形成電氣問題的風險,甚至造成火災。
透過模製夾具將連接器裝至纜線之前,需要檢查各面是否有缺陷,包括內部在內,總共七個面。可能會有的缺陷包括刮痕、凹痕、各種不同位置的變形、灰塵、內部刮痕及過量黏膠。面對檢測時所需的速度與數量會難以發現當中的許多缺陷。即使是連接器上的小缺陷,都會影響電氣連接的品質、連接器固定在插座時的牢固度,以及輕鬆拔除的程度。這些 USB 連接器的耐用度必須媲美手機壽命。
目前的缺陷探測程序需要人工檢測人員使用顯微鏡,或使用基於規則的傳統機器視覺 AOI 機器進行,由作業人員檢視在監視器上擷取的圖像。
結合使用 Cognex Deep Learning 的缺陷探測與分類工具,可大幅改善 USB-C 連接器檢測。缺陷探測工具透過一組加上合格與不合格標籤的連接器範例圖像進行訓練。完成此訓練之後,即能夠探測和標示出任何異常,同時將不會影響功能的細微外觀痕跡視為合格。
分類工具透過會對功能造成重大影響,還有不會形成任何功能影響的各種不同視覺外觀變化進行訓練。其可提高探測準確度,同時也能對一再發生的錯誤提供相關資訊,協助識別上游機器中的潛在性能問題,並支援改善連續製程。