Identificación automática para trazabilidad de “wafer”

A fin de maximizar el uso de las herramientas y el rendimiento de la producción, la industria mundial altamente competitiva de semiconductores exige un control cada vez más riguroso de los procesos complejos; no existe el margen de error. La necesidad de realizar el seguimiento de “wafer” a lo largo de los procesos "back-end" jamás ha sido tan vital para la rentabilidad.

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Sistema de iluminación avanzado

Mediante los 12 modos de iluminación de campo brillante y campo oscuro integrados, controlados por software, los lectores In-Sight Serie 1740 son capaces de crear una imagen a partir de casi cualquier marca de identificación. Marcas súper suaves, revestimientos ultradelgados, sustratos de zafiro; el sistema de iluminación In-Sight Serie 1740 está a la altura de estos desafíos y de muchos otros más. Además, a medida que se desarrollan nuevos revestimientos y procesos de “wafer”, los lectores In-Sight Serie 1740 pueden ampliarse para superar los nuevos desafíos que presentan las imágenes con iluminación especializada generada por el puerto de iluminación auxiliar. 

Algoritmos de lectura probados

Aún la iluminación más efectiva requiere de algoritmos de identificación avanzados para leer correctamente OCR, T7 Data Matrix y códigos de barras en “wafers” donde la creación de imágenes resulta difícil. En el núcleo de In-Sight Serie 1740 se encuentran los algoritmos de lectura Cognex desarrollados en base a la experiencia que sólo proviene de haber instalado más de 31,000 sistemas de ID de “wafer”. Estos algoritmos han demostrado ser los más sólidos y confiables en el mundo de las marcas de identificación que han sido degradadas por las juntas de los bordes, CMP, los patrones de trazado sobre matriz y otras condiciones.

SEMI T7

Filtros de mejoramiento de la imagen

Los efectos del procesamiento de “wafer” pueden afectar la calidad de la marca de identificación a tal punto que se resistan a la lectura, incluso mediante el sistema de iluminación y los algoritmos de software más avanzados. Los lectores In-Sight Serie 1740 pueden superar estas degradaciones visuales mediante los filtros de mejoramiento automático de la imagen. En los casos más severos, los filtros pueden convertir las lecturas fallidas en lecturas correctas al tiempo que se incrementa la confiabilidad y se suprime la necesidad de intervención humana.

Rendimiento de lectura más rápida

In-Sight Serie 1740 lee un 40% más rápido que su predecesor de mayor venta, el In-Sight Serie 1720. La potencia adicional también puede utilizarse para realizar un análisis de la imagen más intensivo por procesador que brinde resultados excepcionalmente confiables sin incrementar los tiempos de lectura totales.